Sprieguma mehānisma noteikšana Si-SiO2 robežvirsmā un robežvirsmas īpašību modificēšana

Projekta mērķis ir izpētīt sprieguma relaksācijas mehānismu Si-SiO2 sistēmā, izmantojot EPR, IS absorbcijas spektroskopiju un skenējošo elektronu mikroskopiju (SEM).

1.Rīgas Tehniskā universitāte.

Si-SiO₂ robežvirsmas pētījumi, izmantojot dažādas metodes (piemēram, EPR, SEM, CV, IS absorbcijas spektroskopija).

Si-SiO₂ robežvirsmas modificēšana tiks veiks ar lāzera starojumu. Paraugi tiks pasūtīti no pusvadītāju rūpnīcas ALFA.

2.Jūlihas pētniecības centrs, Peter Grünberg institūts,

Rīgas Tehniskajā universitātē iegūto rezultātu lietojuma izpēte nanobiotehnoloģiju attīstības jomā.

Projekta tiešā mērķa grupa izplatīs projektā iegūtos  rezultātus, prezentējot tos Rīgas Tehniskās universitātes un Jūlihas pētniecības centra, Peter Grünberg  institūta konferencēs un zinātniskajos semināros, kā arī publicējot rakstus zinātniskajos žurnālos ar ietekmes faktoru, kas citēti SpringerLink, SCOPUS, DBLP un Thomson Reuters (ISI WEB of Science) datu bāzēs. Kopumā tiek plānotas vismaz 2 publikācijas, kā arī dalība 1 konferencē un 2 semināros. Projekta realizācijas laikā tiek plānots organizēt semināru par projekta tēmām. Tiešajā mērķa grupā iesaistīti 5 zinātnieki.

Netiešā mērķa grupa iegūs informāciju par sasniegtajiem zinātniskajiem rezultātiem, piedaloties semināros, kā arī no publicētajiem zinātniskajiem rakstiem, iepriekš minētajās datu bāzēs. Tādējādi tiks nodrošināta netiešās mērķa grupas pieeja pie paveiktajiem rezultātiem. Iegūtie rezultāti tiks izmantoti apmācību procesā kā papildinājums jaunākajiem sasniegumiem zinātnē, kā arī jaunu virzienu attīstīšanai ražošanā. Netiešajā grupā iesaistīto cilvēku skaits ~ 20.